TenSure Testing
首页
关于我们
检测服务
一单一库搜索
新闻资讯
实验室入驻
联系我们
17602199916
首页
/
官方标准库
/
产品质量检验
官方标准 · 一单一库
产品质量检验
共
47,217
条标准
标准列表(第 136 / 1574 页)
官方标准
GB/T4957-2003
非磁性基体金属上非导电覆盖层覆盖层厚度测量涡流法
废止,仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请...
现行有效
ID: 4170
官方标准
GB/T4957-1985
非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
暂无备注
现行有效
ID: 4171
官方标准
GB/T4956-2025
磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法
暂无备注
现行有效
ID: 4172
官方标准
GB/T4956-2003
磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法
废止,仅限能力项目���范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请...
现行有效
ID: 4173
官方标准
GB/T4955-2005
金属覆盖层覆盖层厚度测量阳极溶解库仑法
暂无备注
现行有效
ID: 4174
官方标准
GB/T4955-1997
金属覆盖层覆盖层厚度测量阳极溶解库仑法
废止,仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请...
现行有效
ID: 4175
官方标准
GB/T4950-2021
锌合金牺牲阳极
暂无备注
现行有效
ID: 4176
官方标准
GB/T4949-2026
铝-锌-铟系合金牺牲阳极化学分析方法
暂无备注
现行有效
ID: 4177
官方标准
GB/T4949-2018
铝-锌-铟系合金牺牲阳极化学分析方法
暂无备注
现行有效
ID: 4178
官方标准
GB/T4948-2025
铝合金牺牲阳极
暂无备注
现行有效
ID: 4179
官方标准
GB/T4948-2002
铝-锌-铟系合金牺牲阳极
废止,仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请...
现行有效
ID: 4180
官方标准
GB/T4947-2003
工业赤磷
暂无备注
现行有效
ID: 4181
官方标准
GB/T4945-2002
石油产品和润滑剂酸值和碱值测定法(颜���指示剂法)
暂无备注
现行有效
ID: 4182
官方标准
GB/T4944-2005
玻璃纤维增强塑料层合板层间拉伸强度试验方法
暂无备注
现行有效
ID: 4183
官方标准
GB/T4942-2021
旋转电机整体结构的防护等级(IP代码)分级
暂无备注
现行有效
ID: 4184
官方标准
GB/T494-2025
建筑石油沥青
暂无备注
现行有效
ID: 4185
官方标准
GB/T494-2010
建筑石油沥青
暂无备注
现行有效
ID: 4186
官方标准
GB/T4942.1-2006
旋转电机整体结构的防护等级(IP代码)-分级
废止,仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请...
现行有效
ID: 4187
官方标准
GB/T4937.4-2012
半导体器件机械和气候试验方法第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
暂无备注
现行有效
ID: 4188
官方标准
GB/T4937.34-2024
半导体器件机械和气候试验方法第34部分:功率循环
暂无备注
现行有效
ID: 4189
官方标准
GB/T4937.33-2025
半导体器件机械和气候试验方法第33部分:加速耐湿无偏置高压蒸煮
暂无备注
现行有效
ID: 4190
官方标准
GB/T4937.3-2012
半导体器件机械和气候试验方法第3部分:外部目检
暂无备注
现行有效
ID: 4191
官方标准
GB/T4937.29-2025
半导体器件机械和气候试验方法第29部分:闩锁试验
暂无备注
现行有效
ID: 4192
官方标准
GB/T4937.28-2026
半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试带电器件模型(CDM)器件级
暂无备注
现行有效
ID: 4193
官方标准
GB/T4937.26-2023
半导体器件机械和气候试验方法第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试人体模型(HBM)
暂无备注
现行有效
ID: 4194
官方标准
GB/T4937.25-2025
半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环
暂无备注
现行有效
ID: 4195
官方标准
GB/T4937.24-2025
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速耐湿无偏置强加速应力试验
暂无备注
现行有效
ID: 4196
官方标准
GB/T4937.22-2018
半导体器件机械和气候试验方法第22部分:键合强度
暂无备注
现行有效
ID: 4197
官方标准
GB/T4937.2-2006
半导体器件机械和气候试验方法第2部分:低气压
暂无备注
现行有效
ID: 4198
官方标准
GB/T4937.21-2018
半导体器件机械和气候试验方法第21部分:可焊性
暂无备注
现行有效
ID: 4199
上一页
134
135
136
137
138
下一页
需要 产品质量检验 检测服务?
腾树检测合作实验室具备 CMA/CNAS 双重资质,专业高效
电话咨询 17602199916
在线获取报价