规定了微电子器件的试验方法与程序，涵盖环境试验、机械试验、寿命试验及破坏性物理分析(DPA)，适用于导弹制导计算机、弹载集成电路及半导体分立器件的质量等级鉴定与筛选。
依据GJB 548B-2005标准，腾树检测可开展以下关键参数的检测：
腾树检测合作实验室配备气密性检测仪、键合拉力测试仪、芯片剪切力测试仪及金相显微镜，可依据本标准开展微电子器件DPA分析与可靠性试验，出具CNAS检测报告，服务弹载集成电路出口管制检测与质量等级鉴定。
专业工程师一对一沟通，明确检测项目、执行标准、样品数量及报告用途
签订检测委托协议，确认检测方案、周期及费用，开具委托编号
客户快递寄样或预约全国上门取样，实验室登记样品并流转
严格按照国家标准及作业指导书执行全项检测，记录原始数据
数据审核、报告编制、CMA/CNAS授权签字，出具权威检测报告
报告解读、数据追溯、复检支持，全程技术服务保障
GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》目前状态为"现行"，发布日期为2005-12-12，实施日期为2006-06-01。如需确认最新版本信息，可咨询腾树检测工程师。
依据GJB 548B-2005标准，主要检测项目包括密封性漏率、键合强度、剪切强度、耐焊接热、静电放电阈值等。腾树检测可依据该标准开展两用物项出口管制检测全项委托检测。
常规检测项目3-5个工作日出具CMA/CNAS报告，加急项目可缩短至1-2个工作日(具体视项目复杂度及样品数量而定)。腾树检测合作实验室具备高效流转体系，确保报告按时交付。
腾树检测合作实验室具备CMA(检验检测机构资质认定)及CNAS(中国合格评定国家认可委员会)双重资质，所出具报告具有法律效力，结果国内互认，国际可通过ILAC-MRA框架获得多国认可。
可通过电话17602199916或在线咨询提交委托需求，需提供：产品名称及型号、检测项目及标准、样品数量、报告用途(验收/认证/研发等)。腾树工程师将制定检测方案并报价。