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官方标准 · 一单一库

IEC60749-1:2002

半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

所属领域：产品质量检验

标准状态：现行有效

入库时间： 2026-05-31 00:00:00

标准编号： IEC60749-1:2002

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标准信息

标准编号

IEC60749-1:2002

标准名称

半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

所属领域

产品质量检验

当前状态

现行有效

检测服务说明

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