修改件1半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

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标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-23:2004/AMD1:2011《修改件1半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life》提供专业的第三方检测服务：

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