半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-23:2004+A1:2011《半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life》提供专业的第三方检测服务：

• 资质保障：合作实验室具备 CMA（检验检测机构资质认定）及 CNAS（中国合格评定国家认可委员会）双重资质
• 高效周期：常规项目 5-7 个工作日出具报告，加急可缩短至 1-2 个工作日
• 全国服务：支持快递送样 + 全国上门采样，服务覆盖主要城市
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