半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

所属领域：产品质量检验

标准状态：现行有效

入库时间： 2026-05-31 00:00:00

标准编号： IEC60749-25:2003

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标准编号

IEC60749-25:2003

标准名称

半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

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检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-25:2003《半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling》提供专业的第三方检测服务：

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半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

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