半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电(ESD)灵敏度试验带电器件模型(CDM)器件级Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-28:2022《半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电(ESD)灵敏度试验带电器件模型(CDM)器件级Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level》提供专业的第三方检测服务：

• 资质保障：合作实验室具备 CMA（检验检测机构资质认定）及 CNAS（中国合格评定国家认可委员会）双重资质
• 高效周期：常规项目 5-7 个工作日出具报告，加急可缩短至 1-2 个工作日
• 全国服务：支持快递送样 + 全国上门采样，服务覆盖主要城市
• 专业支持：工程师一对一服务，提供检测方案制定、样品指导、报告解读等全流程服务
• 报告权威：检测报告全国通用，国际可通过 ILAC-MRA 框架获得多国认可

同领域相关标准