半导体器件-机械和气候测试方法-第29部分:闩锁测试Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-29:2011《半导体器件-机械和气候测试方法-第29部分:闩锁测试Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test》提供专业的第三方检测服务：

• 资质保障：合作实验室具备 CMA（检验检测机构资质认定）及 CNAS（中国合格评定国家认可委员会）双重资质
• 高效周期：常规项目 5-7 个工作日出具报告，加急可缩短至 1-2 个工作日
• 全国服务：支持快递送样 + 全国上门采样，服务覆盖主要城市
• 专业支持：工程师一对一服务，提供检测方案制定、样品指导、报告解读等全流程服务
• 报告权威：检测报告全国通用，国际可通过 ILAC-MRA 框架获得多国认可

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