半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热､稳态､高加速应力试验(HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

所属领域：产品质量检验

标准状态：现行有效

入库时间： 2026-07-26 00:00:00

标准编号： IEC60749-4:2017

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标准信息

标准编号

IEC60749-4:2017

标准名称

半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热､稳态､高加速应力试验(HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

所属领域

产品质量检验

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检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-4:2017《半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热､稳态､高加速应力试验(HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)》提供专业的第三方检测服务：

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