半导体器件机械和气候试验方法第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

所属领域：产品质量检验

标准状态：现行有效

入库时间： 2026-05-31 00:00:00

标准编号： IEC60749-5:2017

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标准编号

IEC60749-5:2017

标准名称

半导体器件机械和气候试验方法第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

所属领域

产品质量检验

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腾树检测可依据 IEC60749-5:2017《半导体器件机械和气候试验方法第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test》提供专业的第三方检测服务：

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