半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温存储寿命Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IEC60749-6:2017《半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温存储寿命Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature》提供专业的第三方检测服务：

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• 全国服务：支持快递送样 + 全国上门采样，服务覆盖主要城市
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