集成电路电磁抗扰度测量第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method

标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IEC62132-2:2010《集成电路电磁抗扰度测量第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method》提供专业的第三方检测服务：

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