晶硅光伏(PV)组件光和高温诱导衰减(LETID)测试C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection

标准信息

检测服务说明

腾树检测可依据 IECTS63342:2022《晶硅光伏(PV)组件光和高温诱导衰减(LETID)测试C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection》提供专业的第三方检测服务：

• 资质保障：合作实验室具备 CMA（检验检测机构资质认定）及 CNAS（中国合格评定国家认可委员会）双重资质
• 高效周期：常规项目 5-7 个工作日出具报告，加急可缩短至 1-2 个工作日
• 全国服务：支持快递送样 + 全国上门采样，服务覆盖主要城市
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• 报告权威：检测报告全国通用，国际可通过 ILAC-MRA 框架获得多国认可

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